Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "uszkodzenia systemów elektronicznych" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Diagnostic systems for Backing Calorimeter and Low Level RF of VUV-FEL
Metody testowania i predykcji uszkodzeń systemów elektronicznych w detektorze BAC i liniowym akceleratorze cząstek elementarnych VUV-FEL
Autorzy:
Jeżyński, T.
Tematy:
uszkodzenia systemów elektronicznych
detektor BAC
akcelerator VUV-FEL
liniowy akcelerator
diagnostic control systems
Backing Calorimeter detector
VUV-FEL accelerator
linear accelerator
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 1: Diagnostic systems for Backing Calorimeter and Low Level RF of VUV-FEL. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies