Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "pułapki w sąsiedztwie interfejsu" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Structural investigation of silicon carbide with micro-Raman spectroscopy
Badania strukturalne węglika krzemu za pomocą spektroskopii mikro-ramanowskiej
Autorzy:
Borowicz, P.
Gutt, T.
Małachowski, T.
Łatek, M.
Tematy:
spektroskopia ramanowska
węglik krzemu
pułapki w sąsiedztwie interfejsu
Raman spectroscopy
silicon carbide
near interface traps
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 1: Structural investigation of silicon carbide with micro-Raman spectroscopy. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies