- Tytuł:
-
Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
(Wykrywanie uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS - Autorzy:
- Kuczyński, A.
- Tematy:
-
układy analogowe
wykrywanie uszkodzeń
dyskretna transformata falkowa
jednokierunkowe sieci neuronowe
analog circuits
fault detection
discrete wavelet transform
feedforward neural network - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł