Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Prolib Integro - strona głównaBiblioteka Akademicka WSIiZ

Wyszukujesz frazę "Si-SiO2 system" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Ellipsometric spectroscopy studies of compaction and decompaction of Si-SiO2 systems
    Autorzy:
    Rzodkiewicz, W.
    Panas, A.
    Tematy:
    Si-SiO2 system
    density
    refractive index
    spectroscopic ellipsometry
    Pokaż więcej
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Pozycja nr 2: Ellipsometric spectroscopy studies of compaction and decompaction of Si-SiO2 systems. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices
    Autorzy:
    Rzodkiewicz, W.
    Kudła, A.
    Rawicki, Z.
    Przewłocki, H. M.
    Tematy:
    stress
    MOS
    Si-SiO2 system
    electrical parameters
    refractive index
    Pokaż więcej
    Data publikacji:
    2005
    Wydawca:
    Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Pozycja nr 4: Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies