- Tytuł:
- Temperature Dependent Electron Beam Induced Current Study of Defects in Silicon
- Autorzy:
-
Sekiguchi, T.
Kusanagi, S.
Miyamura, Y.
Sumino, K. - Tematy:
-
71.55.Fr
72.80.Cw - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 1993-01
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł