Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Mi, Y." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-17 z 17
Tytuł:
$2 \nu \beta \beta$ decay of $^{76} Ge$ into excited states with GERDA phase I
Autorzy:
Budjáš, D.
Bezrukov, L.
Cattadori, C.
Wilsenach, H.
Jochum, J.
Allardt, M.
Pullia, A.
Gangapshev, A.
von Sturm, K.
Baudis, L.
Bode, T.
Smolnikov, A.
Lubashevskiy, A.
Barros, N.
Zuzel, Grzegorz
Demidova, E. V.
Lindner, M.
Knöpfle, K. T.
Janicskó Csáthy, J.
Schmitt, C.
Gurentsov, V.
Becerici-Schmidt, N.
Hemmer, S.
Lippi, I.
Misiaszek, Marcin
Wójcik, Marcin
Kuzminov, V. V.
Heisel, M.
Borowicz, Dariusz
Junker, M.
Belyaev, S. T.
di Vacri, A.
Pandola, L.
Kirpichnikov, I. V.
Moseev, P.
Stepaniuk, M.
Doroshkevich, E.
Salathe, M.
Lehnert, B.
Kornoukhov, V. N.
Rumyantseva, N.
Wagner, V.
Simgen, H.
Ur, C. A.
Vasenko, A. A.
Shirchenko, M.
Schütz, A.-K.
Panas, Krzysztof
Zhukov, S. V.
Barabanov, I.
Hult, M.
Benato, G.
Sada, C.
Kirsch, A.
Macolino, C.
Mi, Y.
Medinaceli, E.
Inzhechik, L. V.
Laubenstein, M.
Vanhoefer, L.
ILebedev, V.
Kihm, T.
Liao, H. Y.
Yanovich, E.
Heusser, G.
Schönert, S.
Pelczar, Krzysztof
Wester, T.
Wegmann, A.
Zuber, K.
Grabmayr, P.
Maneschg, W.
Walter, M.
Fedorova, O.
Bettini, A.
Veresnikova, A.
Majorovits, B.
Hegai, A.
Hofmann, W.
Chernogorov, A.
Nemchenok, I.
Schreiner, J.
Domula, A.
Garfagnini, A.
Egorov, V.
Falkenstein, R.
Zinatulina, D.
Kazalov, V.
Schwingenheuer, B.
Freund, K.
Lutter, G.
Schulz, O.
Bellotti, E.
D’Andrea, V.
Frodyma, Nikodem
Gooch, C.
Brudanin, V.
Lazzaro, A.
Gusev, K.
Selivanenko, O.
Brugnera, R.
Riboldi, S.
Zhitnikov, I.
Palioselitis, D.
Zavarise, P.
Kochetov, O.
Stanco, L.
Agostini, M.
Belogurov, S.
Klimenko, A.
Lubsandorzhiev, B.
Schneider, B.
Balata, M.
Bakalyarov, A. M.
Caldwell, A.
Bauer, C.
Data publikacji:
2015
Forma i typ:
artykuł w czasopiśmie
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Pozycja nr 1: $2 \nu \beta \beta$ decay of $^{76} Ge$ into excited states with GERDA phase I. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Two-stage classification approach for human detection in camera video in bulk ports
Autorzy:
Mi, C.
Zhang, Z.
He, X.
Huang, Y.
Mi, W.
Tematy:
Human Detection
Histograms of Oriented Gradients
Support Vector Machine
classification
Pokaż więcej
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Inżynierii Mechanicznej i Okrętownictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 2: Two-stage classification approach for human detection in camera video in bulk ports. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
A positioning lockholes of container corner castings method based on image recognition
Autorzy:
Shen, Y.
Mi, W.
Zhang, Z.
Tematy:
lockholes of container corner
HSV
lockholes positioning
hough transformation
Pokaż więcej
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Inżynierii Mechanicznej i Okrętownictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 7: A positioning lockholes of container corner castings method based on image recognition. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Reliability analysis of multi-state system with common cause failure based on bayesian networks
Analiza niezawodności systemu wielostanowego z uszkodzeniem spowodowanym wspólną przyczyną w oparciu o sieci bayerowskie
Autorzy:
Mi, J.
Li, Y.
Huang, H. Z.
Liu, Y.
Zhang, X. L.
Tematy:
uszkodzenie spowodowane wspólną przyczyną (CCF)
niezawodność systemu
system wielostanowy (MSS)
sieci bayesowskie (BN)
model współczynnika β
common cause failure (CCF)
system reliability
multi-state system (MSS)
Bayesian network (BN)
β-factor model
Pokaż więcej
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 9: Reliability analysis of multi-state system with common cause failure based on bayesian networks. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Reliability analysis of multi-state system with common cause failure based on bayesian networks
Analiza niezawodności systemu wielostanowego z uszkodzeniem spowodowanym wspólną przyczyną w oparciu o sieci bayerowskie
Autorzy:
Mi, J.
Li, Y.
Huang, H. Z.
Liu, Y.
Zhang, X. L.
Tematy:
uszkodzenie spowodowane wspólną przyczyną (CCF)
niezawodność systemu
system wielostanowy (MSS)
sieci bayesowskie (BN)
model współczynnika β
common cause failure (CCF)
system reliability
multi-state system (MSS)
Bayesian network
β-factor model
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 10: Reliability analysis of multi-state system with common cause failure based on bayesian networks. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
An E-Bayesian method for reliability analysis of exponentially distributed products with zero-failure data
Metoda ba yesowskiej estymacji wartości oczekiwanej dla produktów o rozkładzie wykładniczym wykorzystująca dane o niezaistniałych uszkodzeniach
Autorzy:
Yin, Y.-C.
Huang, H.-Z.
Peng, W.
Li, Y.-F.
Mi, J.
Tematy:
E-Bayesian estimation
exponential distribution
zero-failure data
failure rate
hierarchical Bayesian estimation
estymacja bayesowska wartości oczekiwanej
rozkład wykładniczy
dane o niezaistniałych uszkodzeniach
intensywność uszkodzeń
hierarchiczna estymacja bayesowska
Pokaż więcej
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 11: An E-Bayesian method for reliability analysis of exponentially distributed products with zero-failure data. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
An E-Bayesian method for reliability analysis of exponentially distributed products with zero-failure data
Metoda ba yesowskiej estymacji wartości oczekiwanej dla produktów o rozkładzie wykładniczym wykorzystująca dane o niezaistniałych uszkodzeniach
Autorzy:
Yin, Y.-C.
Huang, H.-Z.
Peng, W.
Li, Y.-F.
Mi, J.
Tematy:
E-Bayesian estimation
exponential distribution
zero-failure data
failure rate
hierarchical Bayesian estimation
estymacja bayesowska wartości oczekiwanej
rozkład wykładniczy
dane o niezaistniałych uszkodzeniach
intensywność uszkodzeń
hierarchiczna estymacja bayesowska
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 12: An E-Bayesian method for reliability analysis of exponentially distributed products with zero-failure data. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Equivalent Multi-Surge Impedance Model of Transmission Line Towers
Model impedancyjny energetycznej wieży przesyłowej w warunkach wielokrotnych przepięć
Autorzy:
Du, L.
Yu, S.
Mi, X.
Yang, Q.
Wang, Y.
Tematy:
wieża przesyłowa
impedancyjny model przepięć
wskaźnik kompensacji
energia elektryczna
energia magnetyczna
transmission tower
Surge impedance model
Electric and Magnetic energy
Compensation factor
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 13: Equivalent Multi-Surge Impedance Model of Transmission Line Towers. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Fault tree analysis of train rear-end collision accident considering common cause failure
Analiza drzewa uszkodzeń dla kolizji tylnej części składu pociągu z uwzględnieniem uszkodzenia spowodowanego wspólną przyczyną
Autorzy:
Li, Y. F.
Mi, J.
Huang, H. Z.
Zhu, S. P.
Xiao, N.
Tematy:
common cause failure
train rear-end collision accident
fault tree analysis (FTA)
uszkodzenie spowodowane wspólną przyczyną
kolizja tylnej części składu pociągu
analiza drzewa uszkodzeń
Pokaż więcej
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 14: Fault tree analysis of train rear-end collision accident considering common cause failure. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Fault tree analysis of train rear-end collision accident considering common cause failure
Analiza drzewa uszkodzeń dla kolizji tylnej części składu pociągu z uwzględnieniem uszkodzenia spowodowanego wspólną przyczyną
Autorzy:
Li, Y. F.
Mi, J.
Huang, H. Z.
Zhu, S. P.
Xiao, N.
Tematy:
common cause failure
train rear-end collision accident
fault tree analysis (FTA)
uszkodzenie spowodowane wspólną przyczyną
kolizja tylnej części składu pociągu
analiza drzewa uszkodzeń
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 15: Fault tree analysis of train rear-end collision accident considering common cause failure. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
System reliability modeling and assessment for solar array drive assembly based on bayesian networks
Modelowanie i ocena niezawodności systemu w oparciu o sieci bayesowskie na przykładzie układu napędu paneli słonecznych
Autorzy:
Li, Y. F.
Mi, J.
Huang, H. Z.
Xiao, N. C.
Zhu, S. P.
Tematy:
drzewo uszkodzeń
dynamiczne drzewo uszkodzeń
sieć bayesowska
niezawodność systemu
układ napędu paneli słonecznych
fault tree
dynamic fault tree
Bayesian network
system reliability
solar array drive assembly
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 16: System reliability modeling and assessment for solar array drive assembly based on bayesian networks. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
System reliability modeling and assessment for solar array drive assembly based on bayesian networks
Modelowanie i ocena niezawodności systemu w oparciu o sieci bayesowskie na przykładzie układu napędu paneli słonecznych
Autorzy:
Li, Y. F.
Mi, J.
Huang, H. Z.
Xiao, N. C.
Zhu, S. P.
Tematy:
drzewo uszkodzeń
dynamiczne drzewo uszkodzeń
sieć bayesowska
niezawodność systemu
układ napędu paneli słonecznych
fault tree
dynamic fault tree
Bayesian network
system reliability
solar array drive assembly
Pokaż więcej
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Pozycja nr 17: System reliability modeling and assessment for solar array drive assembly based on bayesian networks. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
    Wyświetlanie 1-17 z 17

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies