Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Klimasek, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AlGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx /Si3N4 bilayers.
Autorzy:
Adamowicz, B.
Miczek, M.
Hashizume, T.
Klimasek, A.
Żywiecki, J.
Tematy:
gallium nitride
HEMT
insulated gate
passivation
C-V
Auger spectroscopy
chemical in-depth profiles
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 1: Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AlGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx /Si3N4 bilayers.. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces
Autorzy:
Domanowska, A.
Adamowicz, B.
Bidziński, P.
Klimasek, A.
Szewczenko, J.
Gutt, T.
Przewłocki, H.
Tematy:
Auger electron spectroscopy (AES)
interfaces
passivation
evolutionary algorithms
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 2: Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air
Badania składu chemicznego oraz odpowiedzi struktury czujnikowej SnO2 na suche i wilgotne syntetyczne powietrze
Autorzy:
Adamowicz, B.
Izydorczyk, W.
Klimasek, A.
Waczyński, K.
Uljanow, J.
Jakubik, W.
Żywicki, J.
Tematy:
dwutlenek cyny
technika RGTO
adsorpcja tlenu
zjawiska powierzchniowe
sensory gazowe
spektroskopia elektronów Augera
tin dioxide
RGTO technique
oxygen adsorption
surface electronic properties
solid-state gas sensors
Auger electron spectroscopy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 3: Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
Tytuł:
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera
Profiling of chemical content of oxide passivation layers using Auger electron spectromicroscopy
Autorzy:
Domanowska, A.
Klimasek, A.
Lisiecka, E.
Bidziński, P.
Adamowicz, B.
Szewczenko, J.
Taube, A.
Korwin-Mikke, K.
Gierałtowska, S
Żywicki, J.
Tematy:
spektroskopia elektronów Augera
dekompozycja linii widmowych
skład chemiczny tlenkowych warstw pasywacyjnych
pasywacja
Auger electron spectroscopy
spectrum line decomposition
oxide passivation layers - chemical composition
passivation
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Pozycja nr 4: Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera. Przejdź do szczegółów egzemplarza
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies