Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Prolib Integro - strona głównaBiblioteka Akademicka WSIiZ

Wyszukujesz frazę "Łatek, M." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Structural investigation of silicon carbide with micro-Raman spectroscopy
    Badania strukturalne węglika krzemu za pomocą spektroskopii mikro-ramanowskiej
    Autorzy:
    Borowicz, P.
    Gutt, T.
    Małachowski, T.
    Łatek, M.
    Tematy:
    spektroskopia ramanowska
    węglik krzemu
    pułapki w sąsiedztwie interfejsu
    Raman spectroscopy
    silicon carbide
    near interface traps
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 1: Structural investigation of silicon carbide with micro-Raman spectroscopy. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Badania strukturalne warstw węglowych w niklowych kontaktach omowych za pomocą widzialnej i nadfioletowej spektroskopii ramanowskiej
    Structural investigations of carbonic layers at the interface of Ni-based ohmic contact investigated with visible and deep UV Raman spectroscopy
    Autorzy:
    Borowicz, P.
    Kuchuk, A.
    Adamus, Z.
    Borysiewicz, M.
    Ekielski, M.
    Kamińska, E.
    Piotrowska, A.
    Latek, M.
    Tematy:
    niklowe kontakty omowe
    warstwy węglowe
    rozpraszanie Ramana
    pasma D i G
    grafit
    grafen
    Ni-based ohmic contacts
    carbonic layers
    Raman scattering
    bands D and G
    graphite
    graphene
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 2: Badania strukturalne warstw węglowych w niklowych kontaktach omowych za pomocą widzialnej i nadfioletowej spektroskopii ramanowskiej. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Badania strukturalne warstw węglowych w kontaktach omowych : porównanie widm ramanowskich obserwowanych od strony warstwy krzemkowej oraz podłoża z węglika krzemu
    Structural investigation of carbonic layers in ohmic contacts : comparison of Raman spectra measured with irradiation through the silicide layer and silicon carbide substrate
    Autorzy:
    Borowicz, P.
    Adamus, Z.
    Ekielski, M.
    Piotrowska, A.
    Kuchuk, A.
    Borysiewicz, M.
    Kamińska, E.
    Latek, M.
    Tematy:
    rozproszenie Ramana
    węglik krzemu
    węgiel
    kontakt omowy
    Raman scattering
    silicon carbide
    carbon
    ohmic contact
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 3: Badania strukturalne warstw węglowych w kontaktach omowych : porównanie widm ramanowskich obserwowanych od strony warstwy krzemkowej oraz podłoża z węglika krzemu. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Realizacja strategii zrównoważonego i trwałego rozwoju przez polskie przedsiębiorstwa ciepłownicze
    Implementation of balanced and permanent development in Polish heat engineering companies
    Autorzy:
    Gieryń, M.
    Latek, P.
    Tematy:
    przedsiębiorstwo ciepłownicze
    rozwój zrównoważony
    polityka energetyczna
    heat engineering company
    sustainable development
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 4: Realizacja strategii zrównoważonego i trwałego rozwoju przez polskie przedsiębiorstwa ciepłownicze. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies