- Tytuł pełny:
- LSI/VLSI testability design / Frank F. Tsui
- Wydawca:
- New York : Mc Graw-Hill
- Rok wydania:
- copyright 1987
- Temat:
- Układ scalony
Integrated circuits - large scale integration - testing
Integrated circuits - very large scale integration - testing
Inżynieria i technika - Gatunek / Forma:
- Książki
Książka