Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Prolib Integro - strona głównaBiblioteka Akademicka WSIiZ

Wyszukujesz frazę "Semertzidis, Yannis K." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Analysis method for detecting topological defect dark matter with a global magnetometer network
    Autorzy:
    Grujic, Zoran
    Lebedev, Victor
    Masia-Roig, Hector
    Kim, Dongok
    Scholtes, Theo
    Smiga, Joseph A.
    Segura, Perrin C.
    Shin, Yun Chang
    Sulai, Ibrahim
    Budker, Dmitry
    Monroy, Madeline
    Dumont, Vincent
    Wickenbrock, Arne
    Stalnaker, Jason E.
    Weis, Antoine
    Semertzidis, Yannis K.
    Pustelny, Szymon
    Jackson Kimball, Derek F.
    Data publikacji:
    2020
    Forma i typ:
    artykuł w czasopiśmie
    Dostawca treści:
    Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
    Pozycja nr 1: Analysis method for detecting topological defect dark matter with a global magnetometer network. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies