Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Prolib Integro - strona głównaBiblioteka Akademicka WSIiZ

Wyszukujesz frazę "Klimasek, A." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AlGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx /Si3N4 bilayers.
    Autorzy:
    Adamowicz, B.
    Miczek, M.
    Hashizume, T.
    Klimasek, A.
    Żywiecki, J.
    Tematy:
    gallium nitride
    HEMT
    insulated gate
    passivation
    C-V
    Auger spectroscopy
    chemical in-depth profiles
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 1: Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AlGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx /Si3N4 bilayers.. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces
    Autorzy:
    Domanowska, A.
    Adamowicz, B.
    Bidziński, P.
    Klimasek, A.
    Szewczenko, J.
    Gutt, T.
    Przewłocki, H.
    Tematy:
    Auger electron spectroscopy (AES)
    interfaces
    passivation
    evolutionary algorithms
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 2: Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
    Tytuł:
    Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera
    Profiling of chemical content of oxide passivation layers using Auger electron spectromicroscopy
    Autorzy:
    Domanowska, A.
    Klimasek, A.
    Lisiecka, E.
    Bidziński, P.
    Adamowicz, B.
    Szewczenko, J.
    Taube, A.
    Korwin-Mikke, K.
    Gierałtowska, S
    Żywicki, J.
    Tematy:
    spektroskopia elektronów Augera
    dekompozycja linii widmowych
    skład chemiczny tlenkowych warstw pasywacyjnych
    pasywacja
    Auger electron spectroscopy
    spectrum line decomposition
    oxide passivation layers - chemical composition
    passivation
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Pozycja nr 3: Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera. Przejdź do szczegółów egzemplarza
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies