- Tytuł:
- Energy concepts involved in MOS characterization
- Autorzy:
-
Engström, O.
Gutt, T.
Przewłocki, H. M. - Tematy:
-
C-V technique
capture cross sections
interface states
Meyer-Neldel rule
MOS
thermally stimulated current - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł